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一方面,發(fā)光激發(fā)和發(fā)射光譜是分析各種材料的基礎(chǔ)。另一方面,顯微鏡圖像可以揭示發(fā)光特性的空間變化,例如,由于材料中的結(jié)構(gòu)缺陷造成的空間變化。此外,發(fā)光壽命是材料的固有特性,既可用于識別材料,也可用于感知材料所處的環(huán)境。通過結(jié)合相關(guān)數(shù)據(jù)集中的所有三類信息,研究人員可以就所研究材料的特性和行為得出新的結(jié)論。
根據(jù)您的應(yīng)用和要求,各種顯微鏡(FluoMic、MicroTime 100、MicroTime 200)可以與光譜儀(FluoTime 300、FluoTime 250)或FlexWave波長選擇器單元結(jié)合使用。
顯微系統(tǒng) |
FluoMic |
MicroTime 100 |
MicroTime 200 |
顯微鏡機(jī)身 |
正直 |
正直 |
倒置 |
觀察體積 |
µm(2 – 100 µm) |
共聚焦 |
共聚焦 |
成像速度 |
可選掃描升級, |
壓電掃描儀,> 30秒 |
根據(jù)壓電掃描儀,> 30秒 |
軟件 |
用于數(shù)據(jù)采集和分析的SymPhoTime 64 |
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載流子擴(kuò)散升級 |
不 |
是 |
是 |
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FluoTime 250 |
FluoTime 300 |
FlexWave |
檢測器類型 |
PMA Hybrid |
PMA Hybrid, NIR PMT |
PMA Hybrid, SPAD |
探測器數(shù)量 |
1 |
1 - 2 |
1 - 4 |
光譜范圍 |
UV - VIS |
UV - VIS - NIR |
400 - 1000 nm |
譜分解 |
單色儀1 nm |
單色儀1 nm,雙單色儀0.1 nm |
1 nm |
探測靈敏度 |
單單色儀的損耗為60 - 70 %,取決于光柵和涂層 |
雙單色儀的損耗為70 - 75 %,取決于光柵和涂層 |
傳輸率> 80 % |
軟件 |
EasyTau 2 |
EasyTau 2 |
SymPhoTime 64 |
數(shù)據(jù) |
時間分辨發(fā)射光譜 |
時間分辨發(fā)射光譜 |
時間分辨發(fā)射光譜,TRES成像、波長相關(guān)反聚束 |
* FLIMbee僅適用于FluoTime耦合,與FlexWave不兼容
用于采集時間分辨圖像的共聚焦顯微鏡 MicroTime 100 和 MicroTime 200 還可以配備光譜儀和 EMCCD 相機(jī),以獲得每個圖像像素的穩(wěn)態(tài)發(fā)射光譜,或配備光譜儀和 sFLIM 探測器,以測量每個圖像像素的時間分辨發(fā)射光譜。
根據(jù)研究問題和樣本類型,一種技術(shù)實施可能比其他技術(shù)實施更適合。
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