• 用于時(shí)間分辨微光致發(fā)光(micro-PL)光譜的各種顯微鏡-光譜儀耦合選項(xiàng)
• 指定區(qū)域或興趣點(diǎn)的穩(wěn)態(tài)光譜和時(shí)間分辨光譜
• 多維數(shù)據(jù)集:光譜、時(shí)間和空間信息
• 高度模塊化和靈活的設(shè)計(jì)

一方面，發(fā)光激發(fā)和發(fā)射光譜是分析各種材料的基礎(chǔ)。另一方面，顯微鏡圖像可以揭示發(fā)光特性的空間變化，例如，由于材料中的結(jié)構(gòu)缺陷造成的空間變化。此外，發(fā)光壽命是材料的固有特性，既可用于識(shí)別材料，也可用于感知材料所處的環(huán)境。通過結(jié)合相關(guān)數(shù)據(jù)集中的所有三類信息，研究人員可以就所研究材料的特性和行為得出新的結(jié)論。

• 太陽(yáng)能電池和光伏
• （有機(jī)）發(fā)光二極管 （LED）
• 光催化
• 納米顆粒和2D材料
• 上轉(zhuǎn)換材料

根據(jù)您的應(yīng)用和要求，各種顯微鏡(FluoMic、MicroTime 100、MicroTime 200)可以與光譜儀(FluoTime 300、FluoTime 250)或FlexWave波長(zhǎng)選擇器單元結(jié)合使用。

* FLIMbee僅適用于FluoTime耦合，與FlexWave不兼容

用于采集時(shí)間分辨圖像的共聚焦顯微鏡 MicroTime 100 和 MicroTime 200 還可以配備光譜儀和 EMCCD 相機(jī)，以獲得每個(gè)圖像像素的穩(wěn)態(tài)發(fā)射光譜，或配備光譜儀和 sFLIM 探測(cè)器，以測(cè)量每個(gè)圖像像素的時(shí)間分辨發(fā)射光譜。

根據(jù)研究問題和樣本類型，一種技術(shù)實(shí)施可能比其他技術(shù)實(shí)施更適合。
如需了解更多信息，請(qǐng)聯(lián)系我們。

武漢東隆科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱“東隆科技”）創(chuàng)立于1997年，坐落于著名的武漢·中國(guó)光谷的核心區(qū)。產(chǎn)品涵蓋科研及工業(yè)應(yīng)用的各個(gè)環(huán)節(jié)，主要涉及光譜影像、激光光束診斷、氣體傳感、單光子計(jì)數(shù)、光鏈路測(cè)量、超快超強(qiáng)激光系統(tǒng)六大光學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域。

成立至今，東隆科技秉持“服務(wù)創(chuàng)造未來”的宗旨，為客戶提供迅捷、高品質(zhì)的服務(wù)，倍受廣大客戶的信賴。東隆科技在多年技術(shù)積累的同時(shí)，聚集了一批光學(xué)、電學(xué)的技術(shù)人才，能夠針對(duì)客戶需求提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品及專業(yè)的解決方案。先后同歐美日多家廠商建立了全面深入的合作，并聯(lián)合成立了開發(fā)、應(yīng)用、服務(wù)技術(shù)中心。