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                                                              English | 中文版 | 手機(jī)版 企業(yè)登錄 | 個(gè)人登錄 | 郵件訂閱
                                                              當(dāng)前位置 > 產(chǎn)品目錄 > 顯微系統(tǒng) > 電子顯微鏡 > OLS41003D測量激光顯微鏡
                                                              OLS41003D測量激光顯微鏡
                                                              英文名稱:OLS4100總訪問:2385
                                                              國產(chǎn)/進(jìn)口:進(jìn)口半年訪問:1
                                                              產(chǎn)地/品牌:日本/島津產(chǎn)品類別:電子顯微鏡
                                                              型       號:OLS4100 最后更新:2020-10-30
                                                              貨       號:
                                                              參考報(bào)價(jià):
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                                                              • 產(chǎn)品介紹
                                                              • 公司簡介

                                                              開拓了激光顯微鏡的界限。
                                                              -總是值得信賴的影像和測量-

                                                              激光掃描顯微鏡的優(yōu)勢

                                                              非接觸式、無損、快速成像和測量

                                                              ○ 非接觸式、無損測量

                                                              激光掃描顯微鏡(LSM)采用低功率激光,不接觸樣品。因此,不像基于探針系統(tǒng)的接觸式表面粗糙度測量儀那樣存在損壞樣品的風(fēng)險(xiǎn)。

                                                              ○ 無需前期準(zhǔn)備即可成像

                                                              掃描電子顯微鏡(SEM)在觀察之前需要進(jìn)行前期的樣品準(zhǔn)備,如真空脫水和/或切片處理,使之適合樣品室。而LSM則無需前期的樣品準(zhǔn)備即可對樣品進(jìn)行測量。而且,將樣品放置在載物臺上之后,即可直接開始成像。

                                                              卓越的XY測量

                                                              在XY平面精確測量亞微米級的距離

                                                              干涉儀是基于普通白光的光學(xué)顯微鏡,它的平面分辨率不高。而LSM通過采用更大數(shù)值孔徑的物鏡和更小波長的光波,極大地提高了平面分辨率。并且通過高精度的激光控制技術(shù),獲得更為精確的樣品表面形貌。根據(jù)拍攝到的圖像,LSM可以進(jìn)行非常精確的XY平面亞微米測量。LEXT OLS4100達(dá)到了0.12µm的平面分辨率。

                                                              bio-equip.com
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