LJ-18M磁控離子濺射儀鍍膜儀

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆時(shí)代

型      號(hào)： LJ-18M

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最后更新：2025-01-22

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

裕隆時(shí)代LJ-16小型離子濺射儀/噴金儀

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆時(shí)代

型      號(hào)： LJ-16

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最后更新：2025-01-22

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

EA電性失效分析系統(tǒng)(EBIC及EBAC)

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： EA

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最后更新：2025-01-22

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

EBAC電子束吸收電流電性失效分析系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： EBAC

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

EBIC電子束感生電流電性失效分析系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： EBIC

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

EFA電性失效分析系統(tǒng)(EBIC及EBAC)

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： EFA

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

掃描透射電子束電性失效分析系統(tǒng)STEBIC

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： STEBIC

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

3D掃描電鏡標(biāo)準(zhǔn)樣品：SEM, CLSM, SPM/AFM

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： 3D Calibration

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

FusionScope綜合原位分析測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：美國(guó)

型      號(hào)： FusionScope（SEM+AFM）

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

背散射電子探測(cè)器BSE

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： BSE

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

TEM/SEM原位加熱與電學(xué)芯片加熱桿系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：北京/PF

型      號(hào)： PFRD

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

掃描電鏡放大倍率標(biāo)樣/電鏡標(biāo)樣

產(chǎn)地/品牌：中國(guó)/裕隆時(shí)代

型      號(hào)： S1000

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STEM掃描透射電鏡數(shù)字圖像系統(tǒng)Pulse

產(chǎn)地/品牌：愛(ài)爾蘭

型      號(hào)： Pulse

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

電子探針和掃描電鏡分析用標(biāo)準(zhǔn)樣品

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆

型      號(hào)： EPMA/SEM

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

Chamberscope掃描電鏡腔室內(nèi)視鏡系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌：德國(guó)/PE

型      號(hào)： Chamberscope

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

X射線能譜儀檢驗(yàn)組合標(biāo)樣

產(chǎn)地/品牌：北京/裕隆時(shí)代

型      號(hào)： EDS12

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北京裕隆時(shí)代科技有限公司

臨界點(diǎn)干燥儀

產(chǎn)地/品牌：Samdri®

型      號(hào)： Samdri®-795

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