舍繁從簡：專業(yè)化呈現(xiàn)表面形貌的三維信息，標準化納米材料的科學(xué)研究方法

奧地利安東帕公司集研發(fā)、生產(chǎn)和經(jīng)銷于一體，致力于高精尖實驗設(shè)備和工業(yè)生產(chǎn)測量系統(tǒng)，現(xiàn)推出Tosca™ 400原子力顯微鏡(AFM)。技術(shù)的先進性與無可匹敵的易用性相結(jié)合，使其成為適合多學(xué)科研究和工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域的尖端 AFM。自動化和工作流導(dǎo)向的控制和分析軟件被植入到AFM的每個操作層級，進一步提升效率并簡化儀器的測量和處理。為用戶分析納米尺度的三維表面形貌、材料粗糙度、結(jié)構(gòu)尺寸和力學(xué)性能等信息。

新進展：
推出教學(xué)操作視頻，新增軟件分析模板
新活動：
Tosca™400 精彩亮相2018國際薄膜大會
新應(yīng)用：
Tosca™400在光電、微納加工和生物領(lǐng)域的研究

一、新進展：
推出教學(xué)操作視頻，新增軟件分析模板

Tosca™400 于近期推出了常用操作的教學(xué)視頻，幫助初學(xué)者盡快熟悉正確的操作流程，包括激光的自動校準設(shè)定、安裝卸載探頭和柔性數(shù)據(jù)帶、運輸AFM的標準流程等。相關(guān)教學(xué)視頻截圖如下。

Tosca™400 Analysis 模板

模板化的數(shù)據(jù)“后處理”方式是Tosca™400的特色。Tosca™400 Analysis 軟件提供了多種可編輯的模板，包括粗糙度、表面三維形貌和體積測量等，將測得的數(shù)據(jù)根據(jù)模板記錄的步驟，一鍵完成所有處理和分析并生成報告，從而提升分析效率。如圖，將粗糙度測量模板應(yīng)用于原始測試數(shù)據(jù)，軟件能按照模板自動進行平整化、區(qū)域選擇等處理，快速計算得到區(qū)域內(nèi)的粗糙度。

二新活動：
Tosca™400 精彩亮相2018國際薄膜大會

Tosca™400于七月精彩亮相深圳2018國際薄膜大會展會現(xiàn)場。會展期間，安東帕圓滿舉辦了2018原子力顯微技術(shù)交流會，來自全國多個省市不同高校、科研院所和高科技企業(yè)的專家學(xué)者和業(yè)內(nèi)人士出席會議。會上，安東帕分享了AFM在薄膜領(lǐng)域的一系列應(yīng)用，如：納米尺度粗糙度分析、膜表面形貌、膜厚測量、粘彈性和模量測試等，并現(xiàn)場展示了Tosca™400樣機。學(xué)者專家們著眼于各自的領(lǐng)域交流了關(guān)于產(chǎn)品和應(yīng)用的心得體會，現(xiàn)場氣氛十分熱烈。

三 新應(yīng)用：光電、微納加工和生物領(lǐng)域

1. 光電領(lǐng)域
由于智能手機的廣泛使用，用于數(shù)碼相機中的CMOS傳感器變得無處不在。為了獲得清晰的高分辨的圖像，必須要精確地制造覆蓋于CMOS傳感器表面的微透鏡。Tosca™400 AFM對傳感器表面的微透鏡陣列進行了研究。

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