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基于根提拉力和X射線成像的玉米根系結(jié)構(gòu)表型研究

瀏覽次數(shù):1444 發(fā)布日期:2021-12-7  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責(zé)任自負(fù)

 

根系不僅是絕大多數(shù)陸生植物賴以生存的基礎(chǔ),還是提高作物抗逆性、養(yǎng)分積累和產(chǎn)量的重要抓手之一。對玉米而言,整個主根、側(cè)根、冠根共同形成了一個復(fù)雜的系統(tǒng),控制著植株汲水、覓養(yǎng)和抗倒伏的能力。盡管目前已有不少根系表型新方法,但在田間試驗中,最常用的方法仍是提取測量根系上部(根冠),接著基于人工測量或二維成像技術(shù)進(jìn)行性狀量化,如PSTOL1、DRO1、土壤取芯、根提拉力測量等。然而,二維的表型技術(shù)受單一視角限制,無法達(dá)到足夠高的準(zhǔn)確度。

 

根提拉力測量法由于操作簡便,常用于實地測量中,因而也具備大規(guī)模表型分析的潛力。根提拉力通常與根系生物量和分枝大小有關(guān),但目前尚未有研究證實根提拉力與目前常用的根系結(jié)構(gòu)測量數(shù)據(jù)間的關(guān)聯(lián)。

 

近日,Plant Phenomics在線發(fā)表了題為Complementary Phenotyping of Maize Root System Architecture by Root Pulling Force and X-Ray Imaging的研究論文。

 

針對以上問題,該文章使用X射線計算機(jī)斷層掃描(CT)技術(shù),掃描生成高精度玉米根冠三維模型,并建立了能夠同時測量71個特征的處理方法(Figure 1)。該方法改進(jìn)了估測根系結(jié)構(gòu)遺傳貢獻(xiàn)的流程,且具有極高的精度,能夠全局檢測根系結(jié)構(gòu)生長發(fā)育的各種變化或者由環(huán)境變化而產(chǎn)生的根系分布的細(xì)微變化(Figure 2)。論文結(jié)果表明,根提拉力測量是一種高通量的根系形狀提取方法,可估計根系質(zhì)量,并且與該文方法中的多個三維特征顯著相關(guān)(Figure 3)?偠灾,該文提出的方法能夠用于校準(zhǔn)和解讀多種試驗場景下的根提拉力測量值,并且能夠輔助對根系結(jié)構(gòu)的遺傳研究工作。

 

Figure1:Pipeline for 3D root imaging using X-ray computed tomography.

 

Figure2:RPF and 3D global root system architecture traits are affected by genotype, environment, and developmental time point.

 

Figure3:RPF and 3D root system architecture traits are strongly associated with each other and root mass (grams).

 

論文鏈接

https://spj.sciencemag.org/journals/plantphenomics/2021/9859254/

 

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https://spj.sciencemag.org/journals/plantphenomics/2021/9895241/

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https://spj.sciencemag.org/journals/plantphenomics/2021/8747930/

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About Plant Phenomics

《植物表型組學(xué)》(Plant Phenomics)是由南京農(nóng)業(yè)大學(xué)和美國科學(xué)促進(jìn)會(AAAS)合作創(chuàng)辦的英文學(xué)術(shù)期刊,于2019年1月正式上線發(fā)行,是Science合作出版的第二本期刊。采用開放獲取形式,刊載植物表型組學(xué)交叉學(xué)科熱點領(lǐng)域具有突破性科研進(jìn)展的原創(chuàng)性研究論文、綜述、數(shù)據(jù)集和觀點。具體范圍涵蓋高通量表型分析的最新技術(shù),基于圖像分析和機(jī)器學(xué)習(xí)的表型分析研究,提取表型信息的新算法,作物栽培、植物育種和農(nóng)業(yè)實踐中的表型組學(xué)新應(yīng)用,與植物表型相結(jié)合的分子生物學(xué)、植物生理學(xué)、統(tǒng)計學(xué)、作物模型和其他組學(xué)研究,表型組學(xué)相關(guān)的植物生物學(xué)等。期刊已被DOAJ、Scopus、PMC、EI和SCIE等數(shù)據(jù)庫收錄。

說明:本文由《植物表型組學(xué)》編輯部負(fù)責(zé)組稿。

中文內(nèi)容僅供參考,一切內(nèi)容以英文原版為準(zhǔn)。

編輯:張威(實習(xí))

審核:卞越、孔敏

來源:北京博普特科技有限公司
聯(lián)系電話:010-82794912
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