蔡司掃描電鏡關(guān)聯(lián)定位、自動(dòng)成像和量化分析解決方案
瀏覽次數(shù):2238 發(fā)布日期:2021-11-19
來源:蔡司
在使用掃描電鏡的過程中,
您是否總是遭遇如下問題:
1. 在不同設(shè)備間切換樣品時(shí)總需耗費(fèi)大量時(shí)間重新定位感興趣區(qū)域
2. 總是為獲取大面積高分辨圖像而苦惱,需要頻繁切換成像參數(shù),調(diào)整像散聚焦
3. 得到圖像后又在為圖像的量化分析而發(fā)愁
針對(duì)以上的困擾和需求,蔡司對(duì)掃描電鏡進(jìn)行了全方位武裝,特別推出
智能電鏡解決方案,解決以上提到的所有問題,最大程度確保您日常檢測(cè)和分析工作的順暢與高效。
01 關(guān)聯(lián)定位分析
蔡司Connect模塊輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)顯微鏡到掃描電鏡的橋接,快速實(shí)現(xiàn)樣品在不同設(shè)備間的重新定位,還能統(tǒng)一管理關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù)和信息
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關(guān)聯(lián)定位:通過關(guān)聯(lián)樣品臺(tái)實(shí)現(xiàn)樣品在不同顯微鏡設(shè)備之間自動(dòng)關(guān)聯(lián)重定位,大幅縮減操作用時(shí)
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數(shù)據(jù)疊加:自由疊加來自手機(jī),光學(xué)顯微鏡,掃描電鏡的信息以及相關(guān)能譜信息
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統(tǒng)一管理:管理來自不同關(guān)聯(lián)設(shè)備的數(shù)據(jù),輸出不同信息疊加圖像和視頻
▲ PCB電路板的關(guān)聯(lián)顯微分析(光鏡,電鏡,能譜信息),左:宏觀圖像;右:感興趣位置局部放大
▲芯片關(guān)聯(lián)顯微分析視頻(光鏡,共聚焦,電鏡)
02 自動(dòng)成像
蔡司SmartSEM Touch定制軟件,全面兼顧參數(shù)設(shè)置,成像,自動(dòng)化拼圖,圖像瀏覽,實(shí)現(xiàn)智能高效的掃描電鏡成像
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向?qū)讲僮髁鞒?/strong>,界面簡(jiǎn)潔,操作簡(jiǎn)單
✓ 根據(jù)樣品智能匹配成像參數(shù),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)聚焦
✓ 簡(jiǎn)單操作即可完成高通量圖像拍攝和拼接
▲簡(jiǎn)潔的SmartSEM Touch操作界面
03 量化分析
蔡司ZEN模塊實(shí)現(xiàn)從電鏡圖像獲取,圖像處理,圖像分割,自動(dòng)測(cè)量到報(bào)告生成的整個(gè)量化分析流程
✓ 一鍵獲取掃描電鏡圖像,向?qū)降姆治龉ぷ髁鞒?/strong>,毫無經(jīng)驗(yàn)的新手也可輕松掌握
✓ 基于機(jī)器學(xué)習(xí)的ZEN Intellesis模塊輕松實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)閾值方法難以達(dá)成的圖像處理需求
✓ 豐富的測(cè)量功能,如顆粒統(tǒng)計(jì)分析,孔隙率,含量百分比,層厚測(cè)量,晶粒度評(píng)級(jí)等
▲量化分析界面-二值化分割
▲金屬焊接位置孔隙大小分析及含量分析
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▲滿足多種測(cè)量需求——高級(jí)測(cè)量 |
▲顆粒分析 |
▲晶粒度評(píng)級(jí) |
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▲含量百分比 |
▲層厚測(cè)量 |
▲孔隙率分析 |
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