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當(dāng)前位置 > 廠商名錄 >上海波銘科學(xué)儀器有限公司

Dhyana 2100 高速高分辨率sCMOS相機(jī)

產(chǎn)地/品牌:鑫圖
型      號(hào): Dhyana 2100
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最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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Dhyana 201D 緊湊型sCMOS相機(jī)

產(chǎn)地/品牌:鑫圖
型      號(hào): Dhyana 201D
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最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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Aries 6510高靈敏高速大靶面sCMOS相機(jī)

產(chǎn)地/品牌:鑫圖
型      號(hào): Aries 6510
參考報(bào)價(jià):
最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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Aries 6506高靈敏高速大靶面sCMOS相機(jī)

產(chǎn)地/品牌:鑫圖
型      號(hào): Aries 6506
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最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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SIRM紅外體微缺陷分析儀

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào):
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最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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LST體微缺陷測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào):
參考報(bào)價(jià):
最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): 1605
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最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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非接觸方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): LEI88
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最后更新:2024-12-18
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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非接觸Hall和方塊電阻測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào):
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SRP 擴(kuò)展電阻測(cè)試

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
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準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)-光致發(fā)光測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): WT-2000PL
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光致發(fā)光檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): WT-2000PL
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PV-2000A 光伏多功能掃描系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): PV-2000A
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汞探針測(cè)試

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): 2017B
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汞CV測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): MCV-530L
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CV-1500非接觸CV測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào): CV-1500
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深能級(jí)瞬態(tài)譜測(cè)試儀

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào):
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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納米壓痕測(cè)試設(shè)備

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào):
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拉曼光譜分析

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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掃描顯微技術(shù)

產(chǎn)地/品牌:SEMLAB
型      號(hào):
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