法會詳情
活動：2017年徠卡工業(yè)客戶交流會
時間：2017年3月9日
地點(diǎn)：北京市海淀區(qū)首體南路新世紀(jì)日航飯店二樓江蘇廳

日程
09:30-12:00  DVM6/DCM8介紹及應(yīng)用分享
12:00-13:00  午餐
13:00-16:00  樣機(jī)體驗

法器介紹
LEICA DVM6視頻顯微鏡

在諸多應(yīng)用場合下，它能為傳統(tǒng)方式提供理想的質(zhì)量控制輔助。數(shù)字顯微鏡生成的圖像將直接顯示在高分辨率顯示器上，因此諸位上仙無需透過目鏡觀察。而變倍光學(xué)元件采用流線型設(shè)計，即使是極難觸及的表面也能有效深入，相對于費(fèi)時費(fèi)力的傳統(tǒng)顯微鏡檢驗技術(shù)，它甚至還能對大型靜態(tài)部件進(jìn)行無損檢驗。

Leica DVM6不僅具備出眾的光學(xué)品質(zhì)，還在量化分析方面表現(xiàn)卓著，無論是二維分析還是高級三維表面測量。設(shè)備一體化設(shè)計，功能高度集成，外觀給您簡潔大方，接觸使用給您不負(fù)眾望！無論您從事的是質(zhì)量保證、失效分析、研發(fā)還是取證的工作，Leica DVM6視頻顯微鏡都提供能快速、可靠和易用的解決方案。

LEICA DCM8干涉共聚焦顯微鏡

在工業(yè)和研究中，高精度表面分析發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，它可以幫助確保材料和組件實(shí)現(xiàn)最佳性能，但同時也面臨著諸多挑戰(zhàn)：表面結(jié)構(gòu)錯綜復(fù)雜，高傾斜度區(qū)域要求橫向分辨率達(dá)到數(shù)微米，而關(guān)鍵性微觀峰谷要求垂直分析達(dá)到亞納米級。

雖然共聚焦顯微技術(shù)可以提供高橫向分辨率，但要實(shí)現(xiàn)亞納米級垂直分辨率，則需要干涉測量技術(shù)。因此，我們將這兩種測量技術(shù)相結(jié)合，推出了多功能超高速 3D 表面測量系統(tǒng) Leica DCM8 — 為您的所有測量觀察任務(wù)提供一站式解決方案。